基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计

作者：于维佳

来源：电子测试, 2014, (06): 10-11.

• 数字集成电路
• 测试仪
• C8051F410
• 液晶显示

开发了一种数字集成电路测试仪,该测试仪以C8051F410微控制器为核心,用户可针对不同待测芯片来选择+3.3V或+5V电源供电,操作界面与测试结果通过液晶显示屏进行人机交互,能够对常用的74系列数字集成电路芯片进行快速、稳定的功能性测试。

• 单位
  柳州铁道职业技术学院