膜厚监控系统的光谱宽度对窄带滤光片性能的影响

作者：顾培夫; 陆巍; 陈海星; 杨毓铭; 李海峰; 章岳光; 刘旭; 唐晋发

来源：光学学报, 2004, (02): 251-254.

• 薄膜光学
• 波分复用
• 膜厚监控
• 光谱宽度
• 窄带滤光片

讨论了膜厚监控系统的光谱宽度对波分复用窄带滤光片特性的影响 ,分析了监控过程中所出现的信号异常现象 ,其主要原因是控制光光谱宽度以及控制波长与滤光片中心波长不一致 ,所以控制光光谱分辨率必须小于单个法布里珀罗滤光片最后 2层膜折转点波长宽度的一半 ,即对 10 0GHz的滤光片 ,监控系统的光谱宽度必须小于 0 2nm。一旦产生中心波长偏离 ,就必定产生厚度控制误差。讨论了高折射率膜和低折射率膜的信号变化规律 ,发现当中心波长比监控波长长时 ,虽然信号变化规律正确 ,但判读到极值时的膜厚变薄。中心波长偏离越长 ,厚度将越薄。而当中心波长比监控波长短时 ,信号将出现反转。中心波长越短 ,反转量越大。最后指出了监控误差对滤光片Tmax和半峰全宽的影响。

• 单位
  浙江大学; 现代光学仪器国家重点实验室