基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案

作者：钟伟宏; 刘炎华; 孙玲

来源：电子与封装, 2012, (11): 17-19+31.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2012.11.006

• 片上系统
• 片外信号源
• 低成本
• 自动测试系统 SoC
• off-chip signal source
• low cost
• ATE

随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高,其测试变得越来越复杂,测试成本也越来越高,如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。卫星数字电视信道接收芯片作为机顶盒关键芯片之一,对低成本测试的要求也越来越迫切。文章针对某卫星数字电视信道接收芯片,通过分析该芯片的内部模块功能,采用片外信号源方法设计该芯片的低成本测试方案,并在自动测试系统T6575上实现。实际生产结果表明,该方法能极大降低芯片测试成本。

• 单位
  南通大学; 中国科学院计算技术研究所; 计算机体系结构国家重点实验室