基于扫描成像的作物近地高光谱获取与特征分析

作者：张东彦; 黄文江; 王纪华; 杨贵军; 朱大洲; 刘源; 马智宏

来源：农业工程学报, 2010, (12): 188-192.

• 光谱测定法
• 作物
• 特征提取
• 扫描成像光谱仪
• 小麦
• 玉米 spectrometry
• crops
• feature extraction
• pushbroom imaging spectrometer
• wheat
• corn

为了验证自主研制的扫描成像光谱仪(PIS)在近地应用的可行性,该文以小麦、玉米为研究对象,利用PIS近地获取作物冠层和叶片的高光谱图像,在对田间和室内获得的成像数据进行对比分析的同时,探讨了成像光谱采集过程中的影响因素。此外,将PIS获取的成像高光谱与地物光谱仪(ASD)测定的高光谱进行比对研究。结果表明:PIS能准确收集作物的光谱信息,且采集的高光谱数据与ASD具有很好的一致性;PIS在田间采集作物光谱信息时,受氧气吸收的影响,在760nm处有明显的干扰吸收;PIS除了能反映作物不同叶位叶片、不同器官光谱的差异,还可依据影像提取杂草、土壤对作物冠层光谱的影响程度。上述初步结果为进一步应用PI...

• 单位
  浙江大学