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摘要
以连接器组件中二极管为主要研究对象,分析连接器组件中二极管破坏的主要影响因素。一般情况下,二极管破坏最容易发生在二极管的玻璃子上,分别用ANSYS热-结构耦合及随机振动模块分析计算了连接器组件中二极管的整体应力分布。比较了两种不同型号和同种型号不同轴共四种不同二极管模型在高温温冲和低温温冲以及随机振动下的应力水平。为连接器组件玻璃烧结设计的材料选择提供了参考,减少了产品试验的次数,有效缩短了产品设计的周期。
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单位中国航天科工集团公司
