紫外ICCD面均匀性测试技术研究

作者：赵玉环; 闫丰; 周跃; 隋永新; 杨怀江; 曹健林

来源：光学技术, 2008, (06): 886-888+891.

DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2008.06.012

• 紫外ICCD
• 标准氘灯
• 面均匀性 ultraviolet ICCD
• standard deuterium lamp
• surface uniformity

以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)面的响应均匀性测试技术。论述了200～300nm UV-IOED面均匀性的测试方案。使用入射口径为100μm的光谱仪对UV-ICCD靶面处的均匀性进行了测试。测试结果表明,靶面处辐照度场的不均匀性不高于1.6%。在对靶面处的均匀性进行测试的基础上,对UV-ICCD面的均匀性进行了实际测量,并进行了不确定度分析。结果表明,该方案可应用于UV-ICLD光电探测器件的面均匀性测量。