液晶显示面板质量改善试验方法探讨(二)

作者：刘铁磊; 刘志昂; 高志刚; 常晶; 汪柯宇

来源：电子世界, 2019, (15): 30-32.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2019.15.012

<正>LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用正交表进行实验设计。通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。

• 单位
  京东方科技集团股份有限公司