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摘要
采用直接压片成型的方法,建立了一种高硅分子筛中氧化钾的X射线荧光光谱分析方法(XRF)。实验结果表明,该方法线性良好,相关系数r=0.9997;与化学法测定结果比较相对误差小于5.6%;精密度试验RSD值小于2.1%;方法具有良好的准确度和精密度;本方法直接压片测定,具有简单、快速、成本低的优点,能满足企业大批量生产的分析要求。
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采用直接压片成型的方法,建立了一种高硅分子筛中氧化钾的X射线荧光光谱分析方法(XRF)。实验结果表明,该方法线性良好,相关系数r=0.9997;与化学法测定结果比较相对误差小于5.6%;精密度试验RSD值小于2.1%;方法具有良好的准确度和精密度;本方法直接压片测定,具有简单、快速、成本低的优点,能满足企业大批量生产的分析要求。
