熔融制样-X射线荧光光谱法测定锆钛矿中主次成分

作者：胡艳巧; 赵烨^*; 魏军; 袁志为; 魏利; 高璐; 宋凡

来源：中国无机分析化学, 2023, 13(03): 263-268.

• X射线荧光光谱法
• 熔融制样
• 锆钛矿
• 有害元素
• 杂质元素

为准确测定锆、钛及其共伴生有用有害杂质元素含量，采用稀释比1∶20的四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂，先将样品700℃预氧化7 min,再1 050℃熔融19 min制样，建立了熔融制样-X射线荧光光谱法测定锆钛矿中SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、MnO、TiO2、K2O、Na2O、P2O5、ZrO2等11种主次成分的分析方法。采用标准样品加入光谱纯的方式配制锆钛矿的标准系列样品解决锆钛矿石标准样品不足的问题。结果表明，各组分的检出限在0.004%～0.13%,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=12)在0.060%～2.6%。对实际样品进行测定，测定值与传统方法测定值一致，并具有操作简便，分析周期短的优点，解决了锆钛矿石前处理过程中锆钛易水解，分析周期长的问题，对综合评价锆钛矿资源具有重要意义。