集成电路测试是电子技术设计中的重要内容。其中多工位测试手段在改善测试效率方面有着重要的应用。但在实际使用过程中,这种测试方式存在一定的安全隐患,严重时会造成事故,导致工作量增大。因此需要采用一定的技术进行预防,其中防呆技术就是一种有效的方式。基于此,本文将重点阐述防呆技术在集成电路多工位测试中的应用。
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