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摘要
密封胶老化后水分会从密封胶界面侵入压接界面，引发绝缘子老化。为探究各老化因素对密封胶金具界面试样的作用机理，对密封胶开展了常温下28 d去离子水、盐溶液、硝酸溶液、硫酸溶液的浸泡试验以及不同温度下硝酸或硫酸与盐的混合溶液的浸泡试验，随后利用傅里叶变换红外光谱（FTIR）、X射线光电子能谱（XPS）、扫描电子显微镜（SEM）和能量色散谱仪（EDS）对试样的老化情况进行分析。结果表明：硫酸溶液对密封胶的硅氧烷基体作用不明显，盐溶液会造成硅氧烷侧链甲基断链，硝酸溶液会在硅氧烷侧链氧化生成-OH；常温下硝酸与盐的混合溶液对密封胶的影响大于高温情况，硝酸与盐的混合溶液对硅氧烷基体的作用基本等同于两种溶液单独作用的叠加。高温情况下硫酸与盐的混合溶液对密封胶的影响大于常温情况，硫酸与盐的混合溶液对硅氧烷基体的作用机理主要为：盐溶液使得硅氧烷侧链甲基断链，导致Si-O-Si主链暴露在硫酸中并发生断链，然后盐溶液又可以继续影响较深处的甲基基团。
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