摘要
有机质孔隙已被证明是页岩中最为有效赋存烃类气体的一类孔隙,因此有效识别页岩中的有机质孔隙对评价页岩储层的勘探开发潜力至关重要。而应用传统的扫描电子显微镜(SEM)识别有机质孔隙存在多种弊端。此次研究以涪陵焦石坝地区发育的下志留统龙马溪组页岩为例,应用氦离子显微镜(HIM)的先进技术,观察并识别龙马溪组页岩中的有机质孔隙结构特征。结果表明:HIM针对有机质孔隙的识别精度远大于SEM,其分辨精度达到0.5 nm,具有成像清晰、景深大和灵敏度高的优点,HIM可有效识别直径分布在0~20 nm左右的有机质孔隙。
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单位中国石油化工股份有限公司; 油气资源与探测国家重点实验室