科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
随着集成电路的高速发展,使用者对电路的性能要求也越来越高。以传统的应用评估的方式来获取电路的传输延时参数的方法,可评估的电路数量非常受限,在高低温条件下也不便于测试。利用测试机测试传输延时,也只是通过运行测试码、设定门限来判定此项参数是否满足要求,无法获取其具体数值。针对传统的测试缺陷,提出一种利用V50 (一种数模混合测试机)测量其传输延时的方法。介绍其软硬件准备、具体操作方法、测试注意点等,提供了一种可测、可数据化、可量产的解决方案。
-
单位无锡中微爱芯电子有限公司
