粉末压片-X荧光光谱法测定铜钴物料中主次组分

作者：张文岗

来源：科学技术创新, 2018, (03): 28-29.

• 粉末压片
• X射线荧光光谱
• 钴
• 元素

利用波长色散X-射线荧光光谱仪,采用粉末压片法同时测定铜钴物料中的Si O2、S、Bi、Pb、Cu、Ni、Co、Fe。采用理论α系数和经验系数相结合的方法校正元素间的效应,用自制出含具有成分含量梯度的并经化学法定值的校准样品绘制工作曲线,取得了较好的效果。结果表明,该方法的精密度和准确度满足工作要求,且具有试样制备简单、分析速度快、成本低廉等特点,该方法与现行方法相比较分析周期短,适用于快速分析检验的要求。