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摘要
通过电化学试验和浸泡试验，使用电子背散射衍射、光学显微镜、扫描电镜和扫描透射电镜及扫描开尔文探针原子力显微镜，研究铜含量对Al-Zn-Mg-(Cu)合金晶间腐蚀和剥落腐蚀敏感性的影响。结果表明，铜含量从0增加至2.6%(质量分数)，晶间腐蚀敏感性增高；而剥落腐蚀敏感性先增高后降低，铜含量为1%时的剥落腐蚀敏感性最高。随着Cu含量的增加，再结晶分数增加，再结晶晶粒的长宽比先减小后增大；晶界析出相与基体的伏打电势差提高，使晶界析出相更易被腐蚀。根据晶界析出相的形貌特征、晶粒组织和晶界析出相与基体的伏打电势差，对晶间腐蚀和剥落腐蚀的萌生和扩展进行讨论。
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