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摘要
介绍一套基于单片机STM32F103的多通道光测试系统的设计方案及实现电路。系统能快速对光偏振相关损耗(PDL)、光插入损耗(IL)、光回波损耗(RL)进行测试,并输出1270、1310、1490、1550、1625 nm五个波长的光源,通过以太网连接电脑界面软件实现半自动测试。各项测试的数据形成报表供打印或储存。
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介绍一套基于单片机STM32F103的多通道光测试系统的设计方案及实现电路。系统能快速对光偏振相关损耗(PDL)、光插入损耗(IL)、光回波损耗(RL)进行测试,并输出1270、1310、1490、1550、1625 nm五个波长的光源,通过以太网连接电脑界面软件实现半自动测试。各项测试的数据形成报表供打印或储存。
