“K”反射系数法在低电阻率地质背景下的应用研究

作者：邬健强; 刘磊; 洪旭程; 刘道涵^*; 刘永亮

来源：华南地质, 2022, 38(02): 312-320.

• “K”反射系数法
• 视电阻率剖面图
• 单支视电阻率测深曲线
• 单支“K”曲线
• “K”剖面

高密度电阻率法因其成本低、效率高等优点而被广泛应用，而对于低电阻率地质背景的区域，如白垩系粉砂岩分布区，其效果并不理想甚至无法分辨有效异常。基于此，笔者通过两个不同地质背景的实例，将高密度电阻率法的结果与通过“K”反射系数法处理后的结果进行了对比应用研究，研究结果表明：（1）相比视电阻率剖面图，“K”反射系数法得到的“K”剖面图能够有效的放大深部地质弱信号，突出局部异常，且异常位置与钻孔结果对应良好；（2）相比钻孔处的单支视电阻率测深曲线，“K”反射系数法得到的单支“K”曲线对地下的解释更加精细，分辨率更高。

• 单位
  中国地质科学院岩溶地质研究所; 中国地质调查局武汉地质调查中心