采用后向散射法对B6类光纤模场直径的测量

作者：熊婷婷; 戴唯一; 王莲萍; 李彦明; 袁燕飞

来源：光纤与电缆及其应用技术, 2018, (03): 11-20.

DOI：10.19467/j.cnki.1006-1908.2018.03.003

• 弯曲损耗不敏感光纤
• 模场直径
• 后向散射法
• 测量
• 高阶模

弯曲损耗不敏感光纤(B6类光纤)已广泛应用于光纤入户(FTTH)和接入网网络改造中。相对于传统的直接远场扫描法、远场可变孔径法、近场扫描法,后向散射法是一种新型的光纤模场直径测试方法。后向散射法主要利用常规光时域反射仪(OTDR)通过双向测量法对光纤接头损耗的精确测定以及在测试中对高阶模影响的有效控制,使其测得的弯曲损耗不敏感光纤的模场直径与可变孔径法(试样长度≥22m)测得的模场直径具有很好的一致性。此外,利用后向散射法测得的1 310nm和1 550nm双波长下的模场直径结果还可进一步计算得弯曲损耗不敏感光纤的截止波长。由此,后向散射法为光纤光缆厂家提供了一种低成本、经济高效的测试手段。