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摘要
对微波T/R组件硅铝腔体出现的连续带状条纹现象，采用拉伸强度测试、金相、扫描电子显微镜及能谱对材料力学性能、微观组织等进行了分析试验。结果表明，条纹区域微观组织是由初晶硅相、α-Al相及部分杂质相聚集形成的细晶区，硅相平均尺寸较正常区域小。进一步分析了条纹产生的原因是，喷射沉积过程中因沉积盘导热率低使部分组织重新熔化，杂质相随液相扩散，形核质点增多，硅相在冷却过程中受其影响被细化形成带状的细晶区。根据原因制定了控制措施，通过改进沉积盘材质及结构以提高喷射沉积过程的散热效率，经验证措施有效。
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单位成都四威高科技产业园有限公司
