电子装备通用测试体系关键技术研究

作者:吴昊; 廖涛; 何小东; 王心聪
来源:电子测试, 2020, (10): 63-48.
DOI:10.16520/j.cnki.1000-8519.2020.10.022

摘要

为解决电子装备自动测试系统的数量多,功能重复等问题,提出了电子装备通用测试平台,通过分析多种总线结构、测试硬件和驱动体系的核心指标与技术特征,借鉴分层思想设计通用型体系架构,以多种测试仪器为基础,利用多层次的驱动体系屏蔽混合总线差异,将测试程序与测试仪器分离,实现了只需更换测试仪器和配置对应的驱动,便可置换底层仪器,使通用测试平台具备较强的扩展能力,覆盖更多测试需求,有效降低测试系统的数量。

  • 单位
    中国电子科技集团公司第二十九研究所; 成都蓉威电子技术有限公司; 中国电子科技网络信息安全有限公司