近年来，基于层状材料的光电探测器由于其独特的光电性能和巨大的应用潜力而备受关注。本文通过机械剥离单晶的方法获得了ZrSe3纳米带，并对其光电性能进行了研究。实验发现，ZrSe3纳米带在405 nm和980 nm波长下具有良好的光电响应。在偏置电压为5 V时，405 nm激光照射下的响应时间低于0.03 s，而980 nm激光照射下的响应时间也可以达到0.45s。结果表明，基于ZrSe3纳米带的光电探测器在可见光到近红外光范围内具有一定的应用潜力。
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