通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该算法,构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案.实验表明,RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性.
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