微波组件测试系统具有自动控制、自动采集、数据处理等功能，可实现组件的高效率、高精度、多通道、全指标测量，是微波组件批量生产的重要模式。在测试系统的研制和使用过程中，存在一些常发故障，影响了测试系统的推广使用。本文系统重点阐述了测试系统的安全性设计原则、常见故障分类，并提出了相应安全性策略，进而提出了测试系统软、硬件的改进措施，并结合实际案例验证了改进措施的有效性。
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