载流X荧光分析仪对数弯晶分光系统的优化设计

作者：陈国照

来源：甘肃冶金, 2011, (04): 103-105.

DOI：10.16042/j.cnki.cn62-1053/tf.2011.04.027

• 载流X荧光分析仪
• 弯晶
• 衍射强度
• 分辨率
• 优化设计 on-stream X-Ray analyzer
• curved crystal
• diffraction intensity
• resolution
• optimal design

对数弯晶分光光路的设计一直是波长色散型X荧光分析仪研究中一个难以解决的课题,通过计算机辅助设计,找出了对数弯晶聚焦规律,实现了以提高X射线衍射强度并兼顾分辨率为目标的弯晶光路优化设计,并经过了实践验证。

• 单位
  西北矿冶研究院