5G天线射频插座焊点开裂问题分析

作者:安维; 曾福林; 沈永生; 丁亭鑫
来源:电子工艺技术, 2021, 42(02): 74-77.
DOI:10.14176/j.issn.1001-3474.2021.02.004

摘要

随着5G产品的规模使用,板到板的射频信号传输应用越来越多,射频插座的焊点可靠性直接影响了信号传输的稳定性。重点针对5G天线射频插座的焊点开裂问题进行深入研究,从PCB生产方面入手,以保障射频插座的可靠性。

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