基于FLASH-March算法的FLASH缺陷检测系统

作者:郭进杰; 王瑜; 李婷; 霍宗亮
来源:微电子学与计算机, 2014, 31(10): 81-85.
DOI:10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2014.10.019

摘要

介绍了FLASH缺陷机理并提出了面向8bit和16bit的FLASH-March算法,在此基础上设计并实现一种新的FLASH缺陷检测系统.该系统以FPGA为硬件基础,以Microblaze软核为CPU搭建系统主体架构,实现了对FLASH缺陷的检测.相比于传统方法,本系统有实现简单,成本低,便于相关算法研究的特点.本设计最终在实际中得到应用,验证了设计的有效性和可靠性.

  • 单位
    中国科学院微电子所

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