BGO晶体生长固液边界层结构的微区研究

作者：张霞; 万松明; 殷绍唐; 尤静林; 陈辉; 赵思杰; 张庆礼

来源：人工晶体学报, 2007, (06): 1245-1248.

DOI：10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2007.06.006

• 固/液边界层
• 高温拉曼光谱
• BGO晶体
• 实时观测 solid-liquid boundary layer
• high temperature Raman spectra
• BGO crystal
• in-situ observation

研究了BGO晶体固/液边界层及其两侧晶体和熔体的高温拉曼光谱,分析了BGO晶体生长固/液边界层以及边界层两侧晶体和熔体的结构特征。结果显示,桥氧键Bi-O-Ge和O-Bi-O在晶体和边界层中都存在,而在熔体中消失。说明[GeO4]和[BiO6]结构基团在晶体及边界层中都存在,边界层中的结构已接近晶体结构;但在熔体中[GeO4]结构基团和Bi3+却是两种独立的存在,长程有序的晶体结构消失。并首次报道了BGO晶体固/液边界层的厚度约为50μm。

• 单位
  中国科学院，安徽光学精密机械研究所; 上海大学; 中国科学院安徽光学精密机械研究所