提出了一种低功耗的测试模式生成方法,采用段固定折叠计数器将确定的测试立方集嵌入片上生成的测试模式序列中.该测试模式生成器需要依赖随机访问扫描体系结构,测试时新的测试模式可直接载入扫描单元而不需要经过扫描移位.基于ISCAS-89基准电路的实验表明,该文提出的方案可以有效降低测试数据量、测试应用时间和测试功耗.
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
