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摘要
载网支持膜是透射电子显微镜测试的前提与保障,但在透射电子显微镜-能谱测试中发现其存在外源杂质元素污染的情况。对市面上的各类常规载网支持膜进行检测,显示其均含有杂质元素Si。外源杂质元素的存在严重造成了样品透射电子显微镜-能谱数据结果的误差。为防止杂质元素的干扰和混淆,本文分析确认了载网支持膜杂质的来源,是由于制膜过程中未去除含Si助剂的清洗剂成份,而其生成的硅胶SiO2与Formvar膜生成了氢键结合,吸附于支持膜表面。
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单位化学工程联合国家重点实验室; 浙江大学; 生物工程学院
