钽电容失效分析研究

作者:李建华; 钟地长*; 刘昌健; 胡逸; 游彬
来源:电子元器件与信息技术, 2023, 7(01): 60-64.
DOI:10.19772/j.cnki.2096-4455.2023.1.014

摘要

本文介绍了钽电容的基本结构和制造工艺,并深入剖析了钽电容的常见失效模式和失效机理。通过一些技术手段结合钽电容失效的内外因分析,寻找钽电容失效的根本原因,重点对钽电容失效进行了分析归纳,提出了一些预防措施,为今后钽电容的设计、制造和应用等方面的改进提供了可靠依据。