摘要

将多波长薄层扫描和化学计量学相结合,应用斜投影法对混合染料中阳离子黄X-5GL和X-8GL进行分析.斜投影法利用投影将被测向量光谱信号从混合光谱信号中分离出来,对分离的信号进行计算分析以获得被测组分的含量.结果表明:2种染料点样量在0.5~2.5μg时,点样量与吸光度积分值具有良好的线性关系,相关系数R分别为0.999 4、0.999 5;所测得的混合染液中阳离子黄X-5GL和X-8GL的RSD较多波长薄层展开定量法小.