电子元器件加速的寿命试验存在的问题与应对措施

作者：张晶

来源：数码世界, 2018, (04): 151.

• 电子元器件
• 加速寿命试验
• 问题
• 措施

伴随科学技术的不断发展,有力推动了电子制造业的高速发展。音加速寿命试验具有低成本且高效率的基本特点,因而被广泛应用于电子元器件领域。本文简要分析了电子元器件在加速寿命试验中所存在的突出问题,有针对性的提出了具体的应对措施。