细节距器件焊接缺陷分析及质量控制

作者：代晓丽; 周凤龙; 潘玉华; 刘英

来源：电子技术与软件工程, 2020, (11): 83-87.

• 细节距
• PQFP器件
• 虚焊
• 共面度

本文对某细节距PQFP器件焊接缺陷的末端要因,采用关联图进行分析并验证。为确保器件引线共面度控制在0.10mm以内,利用光学反射原理,设计了一款易于便捷校正引线共面度的目检辅助工具。通过二次开发SPI锡膏测厚仪,不增加新设备,实现器件引线共面度的检测。工艺改进后,通过焊接试验件验证了质量控制的有效性。

• 单位
  中国电子科技集团公司第二十九研究所