中国散裂中子源RCS注入区H~0CT测量系统研制

作者：邱瑞阳; 黄蔚玲; 曾磊; 徐智虹; 李芳; 孟鸣; 杨涛; 王安鑫; 刘孟宇; 孙纪磊; 徐韬光

来源：强激光与粒子束, 2022, 1-6.

• CSNS
• H~0CT
• 脉冲流强测量
• μA级

中国散裂中子源的强流质子加速器采用剥离注入的方式，碳膜将H-剥离两个电子后变成质子，多圈涂抹注入到快循环同步环加速中，并加速至1.6 GeV。为了精确测量剥离膜的剥离效率并研究不同厚度剥离膜的使用寿命，在I-Dump束线上新研发并安装了一套束流流强探测器（H~0CT），用于测量未完全剥离的H-和H~0（H-被剥离一个电子）粒子。为了测量μA级束流，H0CT弱流强测量系统的研制考虑了外部干扰，配合探头、线缆及电子学低噪声的抗干扰设计，将环境噪声及干扰的影响降至最低，提高信噪比，实现了μA级脉冲电流的测量。

• 单位
  中国科学院高能物理研究所; 中国科学院大学; 散裂中子源科学中心