由于纳米制造的特征尺寸不断缩小,自组装被认为是纳米制造与计算的新兴学科与技术。但是,随着复杂系统自组装过程中出现了多种现象,导致最终的自组装模式出现故障。针对对称瓦片现象产生的自组装故障问题,研究了自组装中对称瓦片对二进制计数器性能影响,通过分析对称类型与对称瓦片的位置,建立了对称瓦片与二进制计数之间的确切关系。Xgrow仿真结果表明分析的有效性和正确性。
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