取样光纤光栅的多层薄膜分析新方法

作者：余华清; 姜向东

来源：光学技术, 2005, (03): 460-462.

DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2005.03.040

• 取样光纤光栅
• 多层膜
• 传输矩阵
• 反射谱

将取样光纤光栅看成一个多层薄膜体系,每层膜用界面传输矩阵和膜层传输矩阵表示,将每层的传输矩阵相乘后得到取样光纤光栅的反射谱。数值计算结果表明:取样光纤光栅的总长度、折射率调制深度、占空比、取样周期和啁啾系数等参数都会影响反射谱的峰值和带宽。该模型的精度满足设计要求。

• 单位
  湖北工程学院; 西南交通大学