介绍了耗散型石英晶体微天平(QCM-D)技术的基本原理及其优越性,回顾了QCM-D在膜污染领域,包括不同膜材料、膜污垢对膜污染及清洗过程影响中的应用。QCM-D的运用实现了膜污垢的量化及其形成过程的实时监测,为深入研究膜污染机理及清洗原理提供了初步的理论依据。未来研究中可利用QCM-D更深入地探究膜吸附及清洗机理,从理论上指导膜污染的预防和清除,得到更加合理并且适合推广运用的膜清洗方式,提高膜清洗效率。
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