碲镉汞焦平面阵列无效像元(盲元)特征与成因

作者：李建林; 谢刚; 刘炼; 陈晓燕; 董伟; 雷永畅

来源：红外与激光工程, 2021, 50(02): 48-59.

• 故障物理
• 失效分析
• 红外焦平面阵列
• 盲元
• 可靠性

中波或长波红外焦平面阵列有效像元率递减的变化趋势,必然是由制造工艺缺陷、特定的工作应力或环境应力引起的某种机理造成。根据红外探测器输出信号电压的数学模型,通过信号传输分析、性能评价测试数据统计分析,运用统计图形、响应曲线及输出信号电压灰度图等可视化手段,直观地呈现无效像元的类型、数量、位置、分布,以及像元信号电压、噪声电压和响应电压等无效像元特性。统计分析显示,像元中心距15μm的中波320×256探测器杜瓦制冷机组件,在使用过程中平均表观有效像元率相对于初始有效像元率减小1.07个百分点,平均有86.45%的表观无效像元为不稳定的闪元和漂移像元,设计和制造缺陷导致使用无效像元的响应直线呈水平状、响应电压趋于0,热适配引起的应力是造成线状分布使用无效像元簇的原因。提出用不同黑体温度条件下像元信号电压超出平均值±(6%～7.5%)的判别准则筛选识别无效像元的方法。

• 单位
  昆明物理研究所