SF₆放电的发射光谱特性分析与放电识别

作者：李彦飞; 汤贝贝; 韩冬; 邱宗甲; 张国强

来源：电工技术学报, 2022, 37(07): 1866-1874.

DOI：10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.210307

• 六氟化硫（SF6）
• 发射光谱
• 特征光谱
• 局部放电
• 放电识别

该文通过实验模拟六氟化硫（SF6）气体绝缘电气设备的三种常见放电缺陷（电晕放电、火花放电以及沿面放电），并采用光谱仪检测上述放电缺陷下的 200～1 037nm 波段范围内的发射光谱。结果表明，电晕放电的发射光谱主要由带状光谱（OH 自由基谱带，SF6和SFx分子谱带）和微弱的 F 原子线状谱组成；火花放电的发射光谱在电晕放电的基础上新增了硫原子、硫离子和氟离子的线状光谱；沿面放电的发射光谱与火花放电的轮廓相似，但由于沿面故障模拟模型中引入了铜元素，因此发射光谱中出现了铜原子和铜离子的线状谱。最后，根据电晕放电、火花放电和沿面放电的光谱特性差异，定义了两个特征物理量：Iratio和|I′nor（323.371nm）|，设计相应的放电识别算法。该算法的正确率为 94.33%，可有效地识别实验中的 SF6放电缺陷。

• 单位
  中国科学院大学; 中国科学院电工研究所