电子束选区熔化过程中吹粉机理及因素分析综述

作者:石毅磊; 王壮; 桑兴华; 杨波; 许海鹰; 杨光; 巩水利*; 齐铂金
来源:航空制造技术, 2023, 66(10): 50-59.
DOI:10.16080/j.issn1671-833x.2023.10.050

摘要

电子束选区熔化(SEBM)过程中,粉末颗粒在电子束作用下带负电引起库仑相互作用,易造成粉末散射,发生吹粉现象。此现象会导致电子枪放电、束流不稳定、粉末不均匀铺展等问题,继而造成工艺不稳定而加工停止。为扩大SEBM工艺适用范围,以电子束与粉末相互作用为基础,从粉末特性和工艺参数两方面分析了吹粉的形成机理及影响因素,根据降低粉末间静电力的方式总结了预防吹粉的措施,最后阐述了吹粉问题在SEBM基础研究方面的发展方向,以期为SEBM长期工作稳定性、可靠性的提高及质量提升提供参考。

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