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摘要
与传统成像技术相比，光场成像技术能够利用光场中光线的传播方向信息，采用计算成像的方式极大地提高成像系统的景深。而传统的光学显微镜分辨率越高，景深越小。文章结合光场成像技术和传统光学显微镜，通过在显微镜一次像面插入微透镜阵列，提高显微镜景深，实现光场的显微三维测量。该系统通过单次曝光即可获得光场的四维光场信息，通过数字重聚焦技术和清晰度评价函数完成光场显微测量。实验结果表明，基于微透镜阵列的光场显微测量方法是可行的。测量系统以牺牲16倍横向分辨率为代价，将显微镜头景深提高了近100倍。
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