摘要

分析电路的Protel设计文档中网表文件描述的器件电气连接信息和所采用器件的BSDL文件所描述的边界扫描特性,然后生成逻辑测试向量,再进一步根据网络中驱动与响应点来影射到扫描过程中的测试数据,实现电路中stack-at-0、stack-at-1、短路和开路等故障。

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