利用高压原位电阻率测量技术,观察0~48.2 GPa内WSe2电阻率随压强的变化规律,并测量了WSe2电阻率在不同压强下随温度的变化关系.结果表明:WSe2电阻率在压力作用下的变化规律与杂质能级压致离化后的传导有关;由于压致能隙闭合,WSe2在38.1 GPa时发生等结构的半导体性到金属性的相转变.