基于DSP的高速动车组车内噪声测试系统设计

作者：辛光; 伍川辉

来源：中国测试, 2013, (03): 84-87.

• 测试系统
• DSP
• ARM Cortex-M3内核
• 高速动车组
• 车内噪声
• 双口RAM test system
• DSP
• ARM Cortex-M3 corebased
• high-speed EMUs
• vehicle interior noise
• dual-port RAM

为满足高速动车组车内噪声试验的需求,设计一种基于DSP的噪声测试系统,对测试系统的设计方案以及软硬件实现进行介绍。系统由控制部分和运算部分组成:控制部分以高性能、低功耗的基于ARM Cortex-M3内核的微控制器STM32F103ZET6为核心,扩展了A/D采集模块、NAND Flash存储模块以及蓝牙通信模块;运算部分以TI公司的低功耗DSP芯片TMS320VC5509A作为核心,负责对采集的噪声数据进行实时处理,并把结果交给ARM发送给上位机,以实现对试验效果的实时观察;ARM与DSP通过双端口RAM相连接,使得两种处理器间的频率差异得到解决并能有效地实现数据交换。实验证明:基于DSP的...

• 单位
  西南交通大学