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摘要
微光成像技术在国防军事、科学研究等多方面有着不可替代的作用，已经成为各国竞相发展的战略高新技术。目前，空间用EMCCD芯片的设计与制造均由美国公司完全掌握，但美国政府对EMCCD技术进行严格的技术封锁和产品出口管制。而我国全天时相机对地观察等系统需要采用EMCCD，因此，急需针对国产化EMCCD开展倍增增益老化分析与评价。主要针对EMCCD的衰减特性，制定了3种不同的老化测试方法。通过对器件衰减曲线数据进行记录和分析，得出了器件在同一工作温度、不同和起始倍增倍数下，以及调节和不调节倍增电压情况下的衰减情况。为EMCCD在生产完成后能够快速地进入增益稳定期提供了一定的数据支撑，同时为其老化测试的方法提供了一定的指导。
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单位中国电子科技集团公司第四十四研究所
