一种基于MEGA128的IR-CUT检测系统

作者:胡继明; 夏路生
来源:电子制作, 2017, (23): 64-65.
DOI:10.16589/j.cnki.cn11-3571/tn.2017.23.023

摘要

双滤光片切换器(IR-CUT)是照相机、摄像机中非常容易出故障的配件,因此,设计一款高性能的IR-CUT寿命检测系统先得非常必要。本文采用ATMEL公司的8位高性能控制芯片,作为IR-CUT检测系统的核心,实现多次连续多通道同时检测,且测试间隔连续可调,可以选择多种电压模式,经过实际测试验证,该检测系统运行安全、稳定。

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