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摘要
为研究某型霍尔开光集成电路的贮存特性，在寒温、亚湿热-入海口、亚湿热、热带海洋等4种气候下的库房开展了248个月的贮存试验，监测了BH-L、BL-H、BH、VOL、ICC等5个性能参数。分析研究了性能参数退化特征及4种气候对性能参数影响的差异特点。结果显示VOL和ICC是贮存敏感参数，VOL在贮存67个月后开始出现显著退化；4种气候对BH-L、BL-H、BH、ICC的影响有显著差异。BH-L、BL-H最早出现显著差异的贮存时间是18个月。最后得出VOL是决定其贮存寿命的关键参数，BH-L、BL-H是影响其环境适应性的关键参数。
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