摘要
显著性目标检测是计算机视觉中一项重要的任务。基于彩色图像的显著性目标检测已经取得了很好的成果,但是在复杂场景中,基于彩色图像的目标检测方法会失效,例如当目标物体与周围环境有着相似的颜色、轮廓、纹理时。与彩色图像不同,高光谱图像同时记录目标的二维空间信息和一维光谱相应信息,可以刻画目标的材质特性,是处理这类问题的重要方式。本文结合目标的全局材质分布特征和局部空间结构特征,提出一种有效地进行近距离显著性目标检测的方法。它将浅层局部手工特征与深层全局材质分布特征结合,利用高光谱图像蕴含的大量信息,充分提取图像的显著性。数据集上的实验结果展示了我们提出的方法的优越性。
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