基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法

作者：季伟伟; 倪晓东; 张凯虹; 杜元勋

来源：电子与封装, 2017, 17(09): 10-14.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0106

• NOR型FLASH
• DSIO
• J750EX

NOR型FLASH存储器因其技术显著的高可靠性、能长久存储代码数据的非易失性(Non-Volatile)特点,在关注可靠性胜过性价比的军工和航空航天领域应用十分广泛。但由于此类器件在线编程及擦除操作较繁琐,从而使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高难度。因此,探索NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以MICRON公司的PC28F00AM29EW为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX测试系统的DSIO模块结合FLASH分块操作的测试方法,从而能够更简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所