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摘要
针对在片电容参数溯源及测量不准确问题，提出一种溯源及测量方法，通过在片形式的直通线将测量结果与成熟的四端对标准电容器的量值联系起来，实现了在片电容参数的溯源。通过定量研究干扰回路对测量结果的影响，对探针系统及测量线缆的影响进行修正，准确测量在片电容值，使得测量数据的准确性可验证，计量级在片电容测量系统测量准确度提高0.08%。
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针对在片电容参数溯源及测量不准确问题，提出一种溯源及测量方法，通过在片形式的直通线将测量结果与成熟的四端对标准电容器的量值联系起来，实现了在片电容参数的溯源。通过定量研究干扰回路对测量结果的影响，对探针系统及测量线缆的影响进行修正，准确测量在片电容值，使得测量数据的准确性可验证，计量级在片电容测量系统测量准确度提高0.08%。
